Nicomp 380ZLS粒度儀在中國具有很活力的需求市場

　　Nicomp 380ZLS粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。Nicomp 380ZLS粒度儀根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。

　　一、Nicomp 380ZLS粒度儀主要原理

　　當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發生散射現象.散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個夾角θ。Nicomp 380ZLS粒度儀散射理論和實驗結果都告訴我們，散射角θ的大小與顆粒的大小有關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小；顆粒越小，產生的散射光的θ角就越大。在圖8中，散射光I1是由較大顆粒引起的；散射光I2是由較小顆粒引起的。進一步研究表明，Nicomp 380ZLS粒度儀散射光的強度代表該粒徑顆粒的數量。這樣，在不同的角度上測量散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。

　　二、Nicomp 380ZLS粒度儀發展前景

　　1、國產粒度儀背靠中國這個活力的需求市場，Nicomp 380ZLS粒度儀企業可把握市場發展脈搏，且市場相對穩定，是企業發展的強大后盾。

　　2、我國有著強大的研發隊伍和創新意識強烈的生產企業，可不斷地完善自身的技術等方面的不足。

　　3、Nicomp 380ZLS粒度儀在中國建立了眾多的營銷和服務機構，這為我國與粒度儀生產廠商之間的技術等方面的交流提供了便利。